化工企業解除有毒，有害，易燃易爆的化學危險品，在生產，使用，運輸，儲存的過程中，因某一環節上的疏于管理，就會造成化學事故。在化工廠中有許多罐體物位，液位需要測量，從安全角度和測量準確性來說，隨著科學技術的發展，對于安全要求越來越高，對于測量的精度要求也越來越高，傳統的接觸式測量技術已經很難滿足這樣的高要求，就必須采用更加先進的測量技術應用到行業中來。化工廠罐體物位測量現狀在化工廠中，很多物料和產品要不是有毒有害危險品，就是易燃易爆危險品。在傳統測量物位的時候大多應用差壓變送器或者磁翻板液位計，此類測量技術大多是與物料直接接觸，維護比較難，測量精度不高，故障率很高。為了達到安全并且準確的測量物位，雷達物位計是應選產品。雷達物位計的工作原理雷達物位計按照信號發射方式可分為：脈沖雷達和調頻連續波雷達。脈沖雷達主要是通過發射和接受信號之間的時間差來確定距離；調頻連續波雷達是發射和接受信號的頻率變化來確定距離。本文介紹脈沖雷達測量物位。脈沖雷達工作原理：雷達物位計采用發射--反射--接收的工作模式。雷達物位計的天線發射出電磁波，這些波經被測對象表面反射后，再被天線接收，電磁波從發射到接收的時間與到液面的距離成正比。雷達物位計記錄脈沖波經歷的時間，而電磁波的傳輸速度為常數，則可算出液面到雷達天線的距離，從而知道液面的液位。測量特點：1.雷達波以光速運行（300000KM/S），雷達波的運行時間...
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雷達物位計廣泛應用于能源、石化、冶金、建材、水利、糧食等行業，是與其所具有的低維護、高性能、高精度、高可靠性、使用壽命長等優點分不開的。由于微波信號的傳輸不受大氣的影響，所以相比電容，重錘等接觸式儀表，雷達物位計優勢更為明顯。能夠滿足工藝過程中高溫、高壓、蒸汽、真空及高粉塵、揮發性氣體等惡劣環境的要求，在高溫、高壓、真空、蒸汽、高粉塵及揮發性氣體等惡劣環境中應用，對不同物位進行連續測量。雷達物位計安裝后使用前的檢查工作。一般來講，需要做好以下幾個方面的檢查。1、進行現場檢查在現場檢查時，要注意觀察現場實際工況與雷達物位計的型號是否相匹配，并且確認安裝環境是否已影響儀表使用，安裝位置是否正確等，以盡可能減少和避免故障的出現，影響儀表的正常使用。所以，對雷達物位計進行現場檢查，是確保儀表穩定正常運行的一項較為基礎的工作，不可忽視。2、進行連接檢查該項檢查和現場檢查有重合的地方，主要通過連接相應軟件，觀察雷達物位計的線性發展情況。一般而言，帶按鍵的儀表都可以實現這項功能。當然，用戶還可通過專業儀器去對雷達物位計的連接進行檢查，以判斷雷達物位計是否能夠正常運行。3、進行通電檢查在通電后，能夠觀察到雷達物位計是否按正常的啟動程序逐步進入，并且正常顯示。而且許多異常現象就是通電后發現的，有些甚至根本就未通上電，導致儀器不會正常工作。所以，在現場允許的條件下，應進行通電檢查，以觀察雷達物位計的各...
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雷達物位計在測量以上介質物位時會遇到精度不準的問題，下面來了解一下影響精度的因素及解決方法。1、雷達物位計測量物位時，一定要考慮發射電磁波信號源的功率強弱。2、被測介質的液位波動或泡沫散射會引起信號減弱，因此要提高信號源的功率或加導波管。3、要采用功能強的微處理器進行復雜的信號處理。同時，在安裝時盡量避免罐內的障礙物。4、雷達物位計的安裝應盡量使天線發射的電磁波垂直于被測介質的液面，同時要使天線盡可能多接收到液面反射波。5、雷達物位計在測量罐頂時，應使液面與天線保持一段距離，這是為了防止被測介質對天線會有腐蝕性。6、雷達物位計在不同的工況中應選擇不同形狀的天線。為避免罐壁、罐內干擾物產生干擾，建議選用導波管來避免干擾回波。使用故障集中在以下幾方面：a、探頭或喇叭口結晶，尤其在冬季環境溫度低時易發生。處理方法：去除結晶，用酸性清洗液清洗；采用合適的伴熱或吹掃氣吹掃延長結晶時間。b、干擾大，產生假液（物）位。處理方法：改變介電常數設置，減少干擾回波；加強屏蔽處理及接地，減少干擾源的存在。c、雷達液位計的空高值雖然是一個測量固定值，但如果原輸入的數據測量有誤也會造成終DCS系統界面顯示不準。如果條件允許，建議對罐體進行一次雷達空高值的準確測定。
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雷達物位計是一種基于雷達波信號反射原理進行工作的先進測量儀表，其產品優勢非常明顯，具有低維護，高性能、使用壽命長等優點，可以適應高溫、高壓、蒸汽等惡劣的生產環境，長期在惡劣的環境下工作，雷達物位計在使用時偶然會出現數據跳變這種情況，今天就向大家扼要介紹一下出現這種情況的原因和辦理方案。一、雷達物位計的使用：1、在室外使用，安裝遮陽篷或者保護箱，避免時間長了，液晶屏受陽光照射而老化。如果在有侵蝕性氣體的環境中使用，需要加裝防腐外套，并且擰緊儀表的表面殼和進出線端子。雷達物位計在有侵蝕性氣體或液體的場所使用，或者在海邊、海上使用，需要選用防腐型的。2、電線、電纜保護管，要注意密封防止積水，防止被老鼠等嚙齒類動物撕咬。3、儀表雖然本身帶有防雷器件，但雷達物位計在多雷區域使用時，建議在儀表的進出線端另外安裝的防雷裝置。4、儀表在特別火熱、寒冷的地方使用，即周圍環境溫度有可能勝過儀表的工作要求時，建議在液位儀周圍加布防高、低溫裝置。5、雷達要和被測的液面垂直，在雷達的電磁波發射的錐形的范圍內不能有其它障礙物。6、如果在-20℃或+80℃的溫度下使用，請事前聯系該公司的技術服務片面。7、雷達物位計使用環境有粉塵、蒸汽、霧氣，液面有泡沫、漂浮物，液體有攪拌，波浪等情況請事前聯系該公司技術服務片面，需要區別對待。二、雷達物位計的數據跳變的原因分析：雷達物位計發射雷達波—水面反射雷達波—雷達物位計接...
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1、高頻非接觸式雷達物位計在進行原煤、石灰石等一些顆粒狀物料進行測量作業時，一般采用高頻非接觸式雷達物位計進行相應測量，這種雷達物位計具有測量準確、能夠對回波進行準確處理，同時還可以起到排除揮發、結晶、粉塵等一些干擾性因素在其中的影響，在其中需要特別注意的是，在進行物位計安裝過程中，應明確儀表在料倉中安裝所處的位置，這樣做的目的在于盡可能的避開進料口位置，防止因此出現進料虛假信號。2、導波型雷達物位計和水滴形高頻雷達物位計在煤化工生產中，因灰倉需要定期進行進料，在進料前，空倉上方因粉塵比較大，很容易傳達虛假信號，再加上沉積已久的積灰表面狀態相對松軟，在進行信號反射也會存在一定影響，對此可通過選用導波型雷達物位計和水滴形高頻雷達物位計對上述類型的灰倉和液體物位計來進行相應測量。3、分體式雷達物位計在進行煤化工生產作業罐區測量時，對雷達物位計的測量產生影響的主要因素在于，需要進行測量的介質介電常數，因此在進行物位計選型過程中，應將被測介質介電常數是否滿足當前雷達物位計測量對其提出的小介電常數要求。如果采用接觸式的方式進行測量，應將測量中的攬/桿在防腐、防反應等方面的因素考慮其中；如果采用接觸式儀表進行測量，則應將儀表在灌頂所處安裝位置考慮其中，應盡可能的避開進料口、氨氣補入口等干擾因素對測量作業正常進行以及測量結果帶來的干擾影響。一般來說，成品罐具有體積大的特征，因此安裝位置在灌頂上方...
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雷達物位計的是通過電磁波(即通稱雷達波，因為利用此測距方法早是應用于軍用雷達，所以被稱為雷達波)來進行工作的。工作原理是通過向被測目標發射電磁波，電磁波發射后遇到介質反射回來，以此來測量具體的液體位置，對于雷達物位計來說，其關鍵性的功能就是保證其能夠順利發射電磁波信號。我們在工業生產現場中，經常會出現信號被干擾的情況，那么是哪些干擾源影響了雷達液位計的測量呢。對于雷達物位計的信號來說，產生干擾的原因有很多，干擾源也是多種多樣，本文將從內部、外部、交流、直流四個方面介紹： 一、外部干擾1、天體、天電干擾首先什么是天體干擾呢？天體就是指太陽或是其他的恒星，因此天體干擾指的就是它們發出的電磁波對雷達物位計發出的信號產生了一定的干擾。對于天電大家肯都感到很陌生，所謂天電通常我們會將其理解為由大氣、雷電等電離作用，或是火山、地震等自然現象產生的電磁波對雷達液位計的信號產生的干擾。2、機械干擾所謂機械干擾是指由于外部機器的大幅度震動或沖擊影響到雷達物位計，使雷達物位計內部的一些元件同樣發生震動甚至是移位、變形，也可能使儀表頭指針松動測量產生誤差，對于這種情況我們通常加以隔板、減震彈簧等來緩解沖擊。 3、濕度干擾當濕度升高，就會引起絕緣體電阻下降、電介質介電數增加、骨架蓬松、電阻增加，進而也就產生漏電流增加、電容量增加、電感器變化等。此外還會使膠質變軟，并且測量精度也會下降。...
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雷達物位計廣泛應用于冶金、建材、能源、石化、水利、糧食等行業。是利用微波技術檢測物位的高科技產品。此物位計具有穿透性好、對惡劣環境和被測材料適應性強的特點。 檢測的雷達物位計有哪些方法呢？ 1、更換法 請求有兩臺同類型的儀器或有足夠的備件。將一個好的備品與毛病機上的同一元器材進行更換,看毛病是不是消除。2、升降溫法 有時外表作業較長時刻,或在夏日作業環境溫度較高時就會呈現毛病,關機查看正常,停一段時刻再開機又正常,過一瞬間又呈現毛病。這種景象是因為單個IC或元器材功能差,高溫特性參數達不到目標請求所造成的。為了找出毛病因素金屬加工網,可選用升降溫法。 所謂降溫,即是在毛病呈現時,用棉纖將無水酒精在可能出毛病的部位抹擦,使其降溫,調查毛病是不是消除。所謂升溫即是人為地將環境溫度升高,比方用電烙鐵放近有疑點的部位(留意切不可將溫度升得太高致使損壞正常器材)試看毛病是不是呈現。 3、隔離法 毛病隔離法不需要一樣類型的設備或備件作對比,并且安全可靠。根據毛病檢查流程圖,切割圍住逐漸縮小毛病搜索范圍件交換等辦,再合作信號比照、部法,通常會很快查到毛病之處。4、比照法 請求有兩臺同類型的智能雷達液位計外表,并有一臺是正常運行的。運用這種辦法還要具有必要的設備,例如,萬用表、示波器等。按對比的性質分有,電壓對比、波形對比、靜態阻抗對比、輸出結果對比、電流對比等。
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